AEC-Q101测试为汽车级半导体分立器件应力测试,主要对汽车分立器件,元器件标准规范要求,如:车用光电耦合器:用于车用隔离件、接口转换器,光电耦合器,触摸屏控制盘,整卷分立器件等。
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测试流程
序号 | 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
---|---|---|---|
1 | 功能参数 | TEST | 客户规范或供货商标准规范 |
2 | 预处理 | PC | JESD22-A113 |
3 | 目检 | EV | JESD22-B101 |
4 | 参数验证 | PV | AEC客户规范 |
5 | 高温反向偏压 | HTRB | MIL-STD-750-1 M1038方法A |
5a | 交流阻断电压 | ACBV | MIL-STD-750-1 M1040条件A |
5b | 高温正向偏压 | HTFB | JESD22-A108 |
5c | 稳态操作 | SSOP | MIL-STD-750-1 M1038方法B/td> |
6 | 高温栅极偏压 | HTGB | JESD22-A108 |
7 | 温度循环 | TC | JESD22-A104附录6 |
7a | 温度循环热实验 | TCHT | JESD22-A104附录6 |
7alt | 温度循环分层测试 | TCDT | JESD22-A104附录6 J-STD-035 |
7b | 绑线牢固性 | WBI | MIL-STD-750 M2037 |
8 | 无偏加速应力测试 | UHAST | JESD22-A118 |
9 | 高加速度应力测试 | HAST | JESD22-A110 |
9alt | 高温高湿反向偏压 | H3TRB | JESD22-A101 |
9a | 高温高湿正向偏压 | HTHHB | JESD22-A101 |
10 | 间歇运行寿命 | IOL | MIL-STD-750 方法1037 |
10alt | 功率和温度循环 | PTC | JESD22 A-105 |
11 | 静电放电特性 | ESD | AEC-Q101-001 AEC-Q101-005 |
12 | 破坏性物理分析 | DPA | AEC-Q101-004 章节4 |
13 | 物理尺寸 | PD | JESD22 B-100 |
14 | 端子强度 | TS | MIL-STD-750 方法2036 |
15 | 耐溶剂性 | RTS | JESD22 B-107 |
16 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750 方法2006 |
17 | 变频振动 | VVF | JESD22 B-103 |
18 | 机械冲击 | MS | JESD22 B-104 |
19 | 气密性 | HES | JESD22 A-109 |
20 | 耐焊接热 | RSH | JESD22 A-111(SMD) B-106(PTH) |
21 | 可焊性 | SD | J-STD-002 JESD22 B-102 |
22 | 热阻抗 | TR | JESD24-3,24-4,24-6 |
23 | 邦线强度 | WBS | MIL-STD-750 方法2037 |
24 | 邦线剪切 | BS | AEC-Q101-003 |
25 | 芯片剪片 | DS | MIL-STD-750 方法2017 |
26 | 钳位感应开关 | UIS | AEC-Q101-004 章节2 |
27 | 介电性 | DI | AEC-Q101-004 章节3 |
28 | 短路可靠性 | SCR | AEC-Q101-006 章节3 |
29 | 无铅 | LF | AEC-Q005 |