| 名称 | 第十三届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛 |
|---|---|
| 时间 | 2016年11月3~5日 |
| 地点 | 武汉国际博览中心 |
| 展位号 | 1号馆1118号 |
| 展示项目 | 电子产品失效分析 电子产品全面解决方案 三维X射线扫描（CT扫描） |
| 名称 | 红外光谱在光电、高分子领域的应用专题研讨会 |
|---|---|
| 时间 | 2016年11月18日 |
| 地点 | 方正科技园A1栋2楼 |
| 会议议题 | 显微红外光谱仪的测试领域的应用 显微红外光谱仪在聚合物失效分析，LCD失效分析中的应用 显微红外光谱仪在固化胶固化率测试中的应用/td> |
| 名称 | 2016首届·测试研修班 |
|---|---|
| 时间 | 2016年11月23日 |
| 地点 | 深圳市科技园大冲华润商务中心C座2501材料馆 |
| 课程 | 粉体新材料的一致性评价方法和检测仪器 新材料研发实验室的建设与管理运营方法 新材料/新工艺高端分析分析及方法 失效模式、失效分析、失效机理 机械电子产品可靠性分析 |
400-850-4050
