2016年9月9日，AES高端分析技术应用企业代表莅临美信检测参观交流，共同探讨AES高端分析技术于产品检测方面的应用，包含AES的原理结构、检测参数、应用特点、与其他能谱分技术比较的优势及其发展，分析全面，讲解深刻。同时，讲师深度剖析了AES检测技术的应用案例，与企业代表共同探讨，相互学习交流，对于美信检测为大家创造建立的交流平台也得到了现场企业代表的一致认可。

会议开始由美信检测研发中心失效分析专家曾志卫分享俄歇电子能谱（AES）的详细介绍，讲师在表面分析技术应用领域拥有非常丰富的理论基础与实践经验，内容讲解观点突出，案例的应用与理论结合，简明易懂。

会议分析了AES于表面成分分析、面扫描、线扫描及深度剖析方面的应用案例，如LED在生产完成后，是否由于异物污染导致放置一段时间后电极表面发生变化（2016LED失效分析与封装技术专题研讨会火热报名中）；通过不同位置的峰行面扫描实现半导体器件中不同形态的Si面扫描；利用线扫描对金属基复合板进行分析，电热丝表面氧化层厚度分析等。在不同能谱分析技术的对比方面，讲师主要分析了EDS与AES之间、XPS与AES之间的比较，并对AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、EDS之间的区别做了简述。

AES的应用非常广泛，AES应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在俄歇电子来极表面甚至单个原子层，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择AES进行分析，AES能分析≥20nm直径的异物成分，且异物的厚度不受限制（能达到单个原子层厚度，0.5nm）；当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行厚度测量，可选择AES进行分析，利用AES的深度溅射功能测试≥3nm膜厚厚度；当产品表面有多层薄膜，需测量各层膜厚及成分，利用D-SIMS（AES）能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。

会议结束后，企业代表参观了美信检测实验室，如显微分析实验室、热分析实验室、物理分析实验室、前处理实验室等等，现场也对AES做了特别观摩讲解。企业代表对本次活动赞誉有加，很多企业代表与美信检测工程师进行了更深入的沟通交流，表示现场讲解与参观互动的安排十分满意，很高兴能有这样的学习机会，能够更好的与工程师及技术人员交流，同时在工作中遇到的技术等问题也可以直接与工程师沟通，并期待长期参加类似的交流会。

深圳市美信分析技术有限公司属深圳市美信检测技术股份有限公司之控股子公司，简称美信分析。美信分析是专业从事材料分析服务的第三方实验室，提供材料样品剖析、成份分析、配方分析、化工品等检验、有毒有害物质检测及相关测试服务，服务对象涉及塑料、橡胶、油品、油墨、焊料、表面处理、胶粘剂、添加剂、助焊剂、涂料、及金属材料等等行业。

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